微区分析及成像
通过X射线(X-ray)微区分析和X射线荧光(XRF)微束技术，以及傅立叶变换红外(FT-IR), 拉曼(Raman)技术, Auger and XPS 光谱仪, 以及X射线(X-ray) 源技术为各研究机构、医疗、检测部门和CID cameras 提供微区结构分析技术。
X射线微区分析
——X 射线微量分析系统
——EDS X 射线探测器
——波长色散光谱仪
微光束 XRF
——Benchtop Platform
——Console Platform
——Wafer Handler Platform
表面分析
——X 射线光电子光谱仪(XRS)
——俄歇电子光谱仪(AES)
——微观结构
——Full Wafer XPS
——Analyzer for Surface Analysis
——Photon Sources for Surface Analysis
——Electron Sources for Surface Analysis
——表面分析软件
——Ion Source for Surface Analysis
拉曼显微镜
——共聚焦拉曼光谱仪
——共聚焦拉曼光谱仪附件
红外显微镜
——红外显微镜
——红外微量分析附件
——红外微量分析软件
——红外微量分析耗用品
——红外显微镜培训
X射线成像源
——分析仪器 OEM 组件
——集成 X 射线源
——封闭式X光管
——安全装置
——X射线膜
——X射线源电源和控制器
CID 摄像机和成像技术
——相机系统
——数字照相系统
——抗辐射相机
——Intensified Cameras